光学式かみこみ検査装置 IVIS-GE
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製品詳細
カタログ等
プラスチック包材のかみこみ・割れ欠け検査が可能
X線検査装置では検査が難しかった、プラスチックフィルム包材のシール部のかみこみを画像検査により検出します。IVIS-GEは近赤外線を製品下部から照射し、透過映像をカメラで撮影します。そして、その撮影画像を画像処理して解析します。 解析した画像を用いて、シール部のかみこみ・シワ、背貼り箇所の不良など様々な包装不良をはじめ、商品の割れや欠けの検査を行い、検査結果は大きくクリアに表示されます。
「GA」を用いた高精度検出技術を搭載
IVIS-GEは、X線検査技術で培った画像処理技術を活用しています。画像処理最新技術「GA（遺伝的アルゴリズム）」もそのひとつ。「GA（遺伝的アルゴリズム）」とは、生物界における遺伝と進化のメカニズムを画像処理のアルゴリズムに応用したもので、IVIS-GEでは「かみこみを検出する」という目的に対して、コンピュータが自動的に画像を最適化しています。
誰でもかんたんに最適な設定が可能
検査物を数回流すだけで、最適レベルの設定を自動で行うオートセット機能を搭載しています。検査中でもラインを止めずに検出感度の調整が可能で、複雑な設定や操作をする必要はありません。誰でもかんたんな作業で最適な検出感度が得られ、生産性を落とすことなく高品質を保つことができます。
高い清掃性を実現したオープン構造
足もとがスッキリしているほか、コンベヤ以外は上面にゴミやホコリがたまりにくいように曲面構造になっています。また、オープン構造を採用しているので、検査物がコンベヤ上で滞留した場合もすぐに発見・除去できます。
